CSK-IA試塊（標準試塊）

該試塊是國家標準TB1152-81規定的試塊,它與國際標準試塊ⅡW相比有以下三處不同：

一是將R100圓曲面改為R50、R100階梯圓曲面,可同時獲得兩個反射回波,校正橫波掃描速度;

二是將50孔改為40、中44、450臺階孔,有利于測定斜探頭的分辨率;

三是將折射角改為K值。

如圖所示CSK-IA 試塊(單位:mm)

其用途有以下幾條:

①利用厚度25mm和高度100mm,測定探傷儀的水平、垂直線性、動態范圍和調整縱波探測范圍、校正時基線。

②)利用 R50 和R100調整橫波探測范圍、零位校正和測定斜探頭的入射點(前沿長度)。

③利用高度 85 mm、91 mm、100 mm 測定直探頭分辨力,利用$40、p44、$50曲面測定斜探頭分辨力。

④利用φ50 曲面和φ1.5 橫孔測定斜探頭 K值

⑤利用50有機玻璃塊測定直探頭盲區和穿透力

⑥利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。