HS半圓階梯試塊
- 標準: GB/T18852-2020
本標準推薦二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試 塊。本標準為接觸探傷中使用的探頭在固體內產生的聲場提供 了測定方法。本標準適用于檢測鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦 合金產品的探頭測定。本標準適用的探頭頻率范圍為1MHz~ 15MHz。1MHz至5MHz最適宜于對鋼鐵產品的檢測,5MHz至 15MHz最適宜于對像鋁合金之類的細晶粒結構產品的檢測。
1、HS半圓階梯試塊(HS試塊),尺寸如圖2-5所示。使 用時,應將試塊置于適當的木架上。作為支撐物的木架既不能 有損于試塊,也不能產生任何阻尼。
GB/T 18852-2020《無損檢測 超聲檢測 測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》中規定了HS半圓階梯試塊。相關信息如下:
· 用途:HS半圓階梯試塊用于測量接觸探頭聲束特性,為接觸探傷中使用的探頭在固體內產生的聲場提供測定方法。可用于檢測鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產品,適用的探頭包括直探頭、斜探頭(折射縱波和折射橫波)、聚焦探頭和雙晶探頭,探頭晶片直徑或邊長不大于25mm,適用的探頭頻率范圍為1MHz-15MHz。
· 使用方法:使用時應將試塊置于適當的木架上,作為支撐物的木架既不能有損于試塊,也不能產生任何阻尼。
該標準中還推薦了另一種試塊SDH橫孔試塊,僅在用試塊調整縱波直探頭探傷靈敏度時才使用,縱波直探頭探傷允許采用Φ3、Φ4、Φ6當量平底孔三種靈敏度。
